Suppr超能文献

通过二次离子质谱成像技术对梳状单链 DNA 分子进行成像。

Combed single DNA molecules imaged by secondary ion mass spectrometry.

机构信息

Equipe Assemblages Moléculaires: Modélisation et Imagerie SIMS, Laboratoire MERCI EA 3829, Faculté des Sciences de l'Université de Rouen, Mont Saint Aignan, France.

出版信息

Anal Chem. 2011 Sep 15;83(18):6940-7. doi: 10.1021/ac201685t. Epub 2011 Aug 22.

Abstract

Studies of replication, recombination, and rearrangements at the level of individual molecules of DNA are often limited by problems of resolution or of perturbations caused by the modifications that are needed for imaging. The Combing-Imaging by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) (CIS) method helps solve these problems by combining DNA combing, cesium flooding, and quantitative imaging via the NanoSIMS 50. We show here that CIS can reveal, on the 50 nm scale, individual DNA fibers labeled with different, nonradioactive isotopes and, moreover, that it can quantify these isotopes so as to detect and measure the length of one or more short nucleic acid fragments associated with a longer fiber.

摘要

对单个 DNA 分子的复制、重组和重排的研究往往受到分辨率问题或因成像所需的修饰而产生的干扰的限制。通过组合 DNA 梳状结构、铯淹没和通过 NanoSIMS 50 进行定量成像,二次离子质谱(SIMS)(CIS)方法有助于解决这些问题。我们在这里表明,CIS 可以在 50nm 尺度上揭示用不同的非放射性同位素标记的单个 DNA 纤维,而且,它可以定量这些同位素,以便检测和测量与较长纤维相关的一个或多个短核酸片段的长度。

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