多重散射对电子显微镜分辨率极限的影响。 - Suppr

The influence of plural scattering on the limit of resolution in electron microscopy.

Rose H

Ultramicroscopy. 1975 Dec;1(2):167-9. doi: 10.1016/s0304-3991(75)80022-2.

Abstract

摘要

Ultramicroscopy. 1975 Dec;1(2):167-9. doi: 10.1016/s0304-3991(75)80022-2.

Ultramicroscopy. 1975 Dec;1(2):170-2. doi: 10.1016/s0304-3991(75)80023-4.

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