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Precision Measurement of Electroweak Effects in e+e---> micro+ micro- at sqrt s =29 GeV.

作者信息

Ash WW, Band HR, Blume HT, Camporesi T, Chadwick GB, Clearwater SH, Coombes RW, Delfino MC, Fernandez E, Ford WT, Gettner MW, Goderre GP, Groom DE, Heltsley BK, Hurst RB, Johnson JR, Lau KH, Lavine TL, Leedy RE, Lippi I, Maruyama T, Messner RL, Moromisato JH, Moss LJ, Muller F, Nelson HN, Peruzzi I, Piccolo M, Prepost R, Qi N, Read AL, Ritson DM, Rosenberg LJ, Shambroom WD, Sleeman JC, Smith JG, Venuti JP, Wald HB, Weinstein R, Wiser DE, Zdarko RW

出版信息

Phys Rev Lett. 1985 Oct 28;55(18):1831-1834. doi: 10.1103/PhysRevLett.55.1831.

DOI:10.1103/PhysRevLett.55.1831
PMID:10031938
Abstract
摘要

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1
Precision Measurement of Electroweak Effects in e+e---> micro+ micro- at sqrt s =29 GeV.在\(\sqrt{s}=29\)GeV时\(e^+e^-\to\mu^+\mu^-\)过程中电弱效应的精确测量
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