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用于相衬显微断层成像的多光束X射线干涉测量法。

Multiple-beam X-ray interferometry for phase-contrast microtomography.

作者信息

Bonse U, Beckmann F

机构信息

Institute of Physics, University of Dortmund, D-44221 Dortmund, Germany.

出版信息

J Synchrotron Radiat. 2001 Jan 1;8(1):1-5. doi: 10.1107/s0909049500015843.

DOI:10.1107/s0909049500015843
PMID:11486489
Abstract

The first successful operation of an X-ray interferometer under conditions of non-planar three-beam diffraction for phase-contrast X-ray microtomography is reported. Intrinsic phase differences of the reflections used cancel from the three-dimensional phase image of the specimen. With simultaneous hkl and hkl reflections of a synchrotron radiation beam in a side-by-side geometry, the size of the usable field of view is doubled and the investigated specimen volume is increased by a factor of four. As an example, the reconstructed slice of a mouse kidney is shown in phase contrast at 71 keV. Optimized choices of three-beam reflections and matching interferometer geometries useful for applications are presented.

摘要

报道了在非平面三光束衍射条件下用于相衬X射线显微断层成像的X射线干涉仪的首次成功运行。所使用反射的固有相位差从样品的三维相位图像中消除。在同步辐射光束以并排几何结构同时进行hkl和hkl反射时,可用视场大小翻倍,所研究的样品体积增加了四倍。例如,展示了在71keV下相衬成像的小鼠肾脏重建切片。还给出了对应用有用的三光束反射和匹配干涉仪几何结构的优化选择。

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