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高临界电流超导薄膜的微观结构。

The microstructure of high--critical current superconducting films.

出版信息

Science. 1987 Oct 16;238(4825):342-4. doi: 10.1126/science.238.4825.342.

DOI:10.1126/science.238.4825.342
PMID:17837116
Abstract

The microstructure of superconducting films that have shown high-critical current densities has been studied. The films are shown to be epitaxial and contain twins and precipitates. The main difference between these films and low current carrying samples is the absence of grain boundaries. These boundaries are therefore identified as the cause of the lower critical current in ceramic samples.

摘要

已经研究了显示出高临界电流密度的超导薄膜的微观结构。这些薄膜是外延的,包含孪晶和析出物。这些薄膜与低载流样品的主要区别在于没有晶界。因此,这些晶界被认为是陶瓷样品中较低临界电流的原因。

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