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用于表征锥形配置中一维粗糙完全反射表面的穆勒矩阵。

Mueller matrix for characterization of one-dimensional rough perfectly reflecting surfaces in a conical configuration.

作者信息

Luna R E, Acosta-Ortiz S E, Zou L F

出版信息

Opt Lett. 1998 Jul 15;23(14):1075-7. doi: 10.1364/ol.23.001075.

DOI:10.1364/ol.23.001075
PMID:18087432
Abstract

Theoretical results of the use of a Mueller matrix to characterize a one-dimensional rough perfectly reflecting, single-scattering surface in a conical configuration are presented. The conical Mueller matrix (CMM) is derived from the known Mueller matrix of this kind of surface in the plane of incidence [the plane Mueller matrix (PMM)]. The key argument is that, as the PMM is considered to be a Mueller-Jones matrix, an appropriate rotation of the complex amplitude matrix provides the conic Mueller matrix.

摘要

给出了使用穆勒矩阵来表征锥形配置下一维粗糙完全反射单散射表面的理论结果。锥形穆勒矩阵(CMM)是从这种表面在入射平面[平面穆勒矩阵(PMM)]中的已知穆勒矩阵推导出来的。关键论点是,由于PMM被视为穆勒 - 琼斯矩阵,复振幅矩阵的适当旋转可提供锥形穆勒矩阵。

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