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强折射场的层析重建及其在边界层干涉测量中的应用。

Tomographic reconstruction of strongly refracting fields and its application to interferometric measurement of boundary layers.

作者信息

Cha S, Vest C M

出版信息

Appl Opt. 1981 Aug 15;20(16):2787-94. doi: 10.1364/AO.20.002787.

DOI:10.1364/AO.20.002787
PMID:20333041
Abstract

An iterative algorithm for tomographic reconstruction of refractive-index fields from measured values of path integrals along rays which have been bent by refraction is presented. The behavior of the algorithm is studied by applying it to path length data obtained by computer simulation of experiments in which holographic or Mach-Zehnder interferograms of the field are recorded for several different viewing directions. A special form of the algorithm is also used to measure concentration profiles in the boundary layer formed at the cathode of an electrolytic cell containing ZnCl(2). The Appendix contains a discussion of series expansion techniques for reconstructing object fields from measured values of line integrals through the field.

摘要

本文提出了一种迭代算法,用于根据沿因折射而弯曲的光线的路径积分测量值对折射率场进行层析重建。通过将该算法应用于通过计算机模拟实验获得的路径长度数据来研究其行为,在这些实验中,针对几个不同的观察方向记录了该场的全息或马赫-曾德尔干涉图。该算法的一种特殊形式还用于测量包含ZnCl₂的电解池阴极处形成的边界层中的浓度分布。附录包含了关于通过场的线积分测量值重建物场的级数展开技术的讨论。

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