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聚合物刷的原子力显微镜:胶体与尖锐针尖。

Atomic force microscopy of polymer brushes: colloidal versus sharp tips.

机构信息

Laboratoire de Spectrométrie Physique (UMR 5588), Université Joseph Fourier-CNRS, BP 87, 38402 Saint Martin d'Hères, France.

出版信息

Langmuir. 2010 Jun 1;26(11):8933-40. doi: 10.1021/la9047374.

DOI:10.1021/la9047374
PMID:20450178
Abstract

Force versus distance profiles acquired by atomic force microscopy probe the structure and interactions of polymer brushes. An interpretation utilizing the Derjaguin approximation and assuming local compression of the brush is justified when colloidal probes are utilized. The assumptions underlying this approach are not satisfied for sharp tips, and deviations from this model were reported for experiments and simulations. The sharp-tip force law proposed assumes that the free energy penalty of insertion into the brush is due to the osmotic pressure of the unperturbed brush. This static force law is in semiquantitative agreement with the simulation results of Murat and Grest (Murat, M.; Grest, G. S. Macromolecules 1996, 29, 8282).

摘要

原子力显微镜探针获得的力-距离曲线可以探测聚合物刷的结构和相互作用。当使用胶体探针时,可以利用德加古因近似和假设局部压缩刷的方法进行解释。当使用尖锐的探针时,这种方法的假设不成立,并且已经报道了实验和模拟中的这种模型的偏差。所提出的尖锐尖端力定律假设,插入刷中的自由能惩罚是由于未受扰刷的渗透压。这种静态力定律与 Murat 和 Grest(Murat,M.;Grest,G. S. Macromolecules 1996, 29, 8282)的模拟结果在半定量上是一致的。

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