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使用相位多普勒系统对亚微米颗粒进行尺寸测量。

Sizing of submicrometer particles using a phase-Doppler system.

作者信息

Naqwi A, Durst F, Kraft G

出版信息

Appl Opt. 1991 Nov 20;30(33):4903-13. doi: 10.1364/AO.30.004903.

DOI:10.1364/AO.30.004903
PMID:20717296
Abstract

Based on an analysis of the response of a phase-Doppler system to a Rayleigh scatterer, the basic requirements for the application of this technique in the Rayleigh and near-Rayleigh range are established. Using Mie-scattering theory, we computed the response curves of the corresponding phase-Doppler systems for various materials. The possibilities for particle sizing as well as particle material recognition in the submicrometer range are highlighted. Measurements with submicrometer latex spheres in water demonstrate the feasibility of the application of the phase-Doppler technique in the near-Rayleigh range.

摘要

基于对相位多普勒系统对瑞利散射体响应的分析,确定了该技术在瑞利和近瑞利范围内应用的基本要求。利用米氏散射理论,我们计算了各种材料对应的相位多普勒系统的响应曲线。突出了在亚微米范围内进行颗粒尺寸测量以及颗粒材料识别的可能性。在水中使用亚微米乳胶球进行的测量证明了相位多普勒技术在近瑞利范围内应用的可行性。

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