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利用偏振控制太赫兹光谱对双折射材料进行表征。

Characterization of birefringent material using polarization-controlled terahertz spectroscopy.

作者信息

Zhang Liangliang, Zhong Hua, Deng Chao, Zhang Cunlin, Zhao Yuejin

机构信息

Beijing Key Laboratory for Terahertz Spectroscopy and Imaging, Capital Normal University, Beijing, China.

出版信息

Opt Express. 2010 Sep 13;18(19):20491-7. doi: 10.1364/OE.18.020491.

DOI:10.1364/OE.18.020491
PMID:20940941
Abstract

We present a polarization-controlled terahertz (THz) spectroscopy method to characterize the birefringent materials. The polarization of THz wave was controlled by changing the relative phase of the fundamental and second-harmonic waves in the two-color laser-induced air plasma THz generation configuration. The optical axis orientation was investigated through detecting one component of the transmitted THz electric field by continuously changing the electric field direction of the linearly polarized incident THz wave. This work demonstrates that the polarization-controlled THz spectroscopy can be used to study the anisotropy of the inner structure for birefringent materials.

摘要

我们提出了一种用于表征双折射材料的偏振控制太赫兹(THz)光谱方法。在双色激光诱导空气等离子体太赫兹产生配置中,通过改变基波和二次谐波的相对相位来控制太赫兹波的偏振。通过连续改变线偏振入射太赫兹波的电场方向,检测透射太赫兹电场的一个分量来研究光轴方向。这项工作表明,偏振控制太赫兹光谱可用于研究双折射材料内部结构的各向异性。

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