• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利:CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法,用中文像聊天一样搜索,搜遍4000万医学文献。AI智能推荐,让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版,准确专业,支持PDF/Word/PPT等文件格式,支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述,25分钟生成高质量综述,智能提取关键信息,辅助科研写作。

立即免费体验

介孔硅薄膜的 Brij58 表面活性剂模板的 X 射线分析。

X-ray analysis of mesoporous silica thin films templated by Brij58 surfactant.

机构信息

Laboratoire de Physique de l'Etat Condensé (LPEC), UMR CNRS 6087, Université du Maine, 72085 Le Mans Cedex 09, France.

出版信息

J Phys Condens Matter. 2010 Dec 1;22(47):474005. doi: 10.1088/0953-8984/22/47/474005. Epub 2010 Nov 15.

DOI:10.1088/0953-8984/22/47/474005
PMID:21386612
Abstract

The structural optimization of highly mesoporous silica thin film templated with Brij58 is reported in this paper. The best conditions for obtaining well organized films are studied as a function of the concentration of surfactant, the relative humidity (RH) and the aging time of the solutions used in the dip-coating process. We first show on the basis of the results obtained by small angle x-ray scattering (SAXS) experiments on the binary system Brij58/water that the structure of the films determined by grazing incidence (GI) SAXS experiments can be explained according to a specific equation involving the initial masses of the sol constituents. Then the structural properties of the films are investigated by x-ray reflectivity (XRR) and GISAXS before and after removing the surfactant. The mesoporosities and morphology of the films are determined by analyzing the reflectivity curves of the highly ordered silica thin films in the cubic phase.

摘要

本文报道了用 Brij58 模板制备的具有高度中孔的二氧化硅薄膜的结构优化。研究了获得组织良好的薄膜的最佳条件,作为表面活性剂浓度、相对湿度 (RH) 和浸涂过程中使用的溶液陈化时间的函数。我们首先根据在二元体系 Brij58/水中进行的小角 X 射线散射 (SAXS) 实验结果表明,通过掠入射 (GI) SAXS 实验确定的薄膜结构可以根据涉及初始溶胶成分质量的特定方程来解释。然后,通过在去除表面活性剂前后进行 X 射线反射率 (XRR) 和 GISAXS 研究了薄膜的结构性质。通过分析高度有序的二氧化硅薄膜在立方相中的反射率曲线,确定了薄膜的中孔率和形貌。

相似文献

1
X-ray analysis of mesoporous silica thin films templated by Brij58 surfactant.介孔硅薄膜的 Brij58 表面活性剂模板的 X 射线分析。
J Phys Condens Matter. 2010 Dec 1;22(47):474005. doi: 10.1088/0953-8984/22/47/474005. Epub 2010 Nov 15.
2
Intrinsic property measurement of surfactant-templated mesoporous silica films using time-resolved single-molecule imaging.使用时间分辨单分子成像技术对表面活性剂模板介孔二氧化硅薄膜进行本征性质测量。
J Chem Phys. 2008 Apr 7;128(13):134710. doi: 10.1063/1.2868751.
3
Controlling interfacial curvature in nanoporous silica films formed by evaporation-induced self-assembly from nonionic surfactants. II. Effect of processing parameters on film structure.通过非离子表面活性剂蒸发诱导自组装形成的纳米多孔二氧化硅薄膜中界面曲率的控制。II. 加工参数对薄膜结构的影响。
Langmuir. 2007 Apr 10;23(8):4268-78. doi: 10.1021/la062641z. Epub 2007 Mar 9.
4
Electrochemically assisted self-assembly of mesoporous silica thin films.介孔二氧化硅薄膜的电化学辅助自组装
Nat Mater. 2007 Aug;6(8):602-8. doi: 10.1038/nmat1951. Epub 2007 Jun 24.
5
Silica films with a single-crystalline mesoporous structure.具有单晶介孔结构的二氧化硅薄膜。
Nat Mater. 2004 Sep;3(9):651-6. doi: 10.1038/nmat1184. Epub 2004 Aug 15.
6
Tailoring porous silica films through supercritical carbon dioxide processing of fluorinated surfactant templates.通过对氟化表面活性剂模板进行超临界二氧化碳处理来定制多孔二氧化硅薄膜。
J Phys Chem B. 2007 Jan 18;111(2):363-70. doi: 10.1021/jp0656680.
7
Effects of template and precursor chemistry on structure and properties of mesoporous TiO2 thin films.模板和前驱体化学对介孔TiO₂薄膜结构与性能的影响。
Langmuir. 2004 Oct 12;20(21):9095-102. doi: 10.1021/la0486279.
8
How to dip-coat and spin-coat nanoporous double-gyroid silica films with EO19-PO43-EO19 surfactant (Pluronic P84) and know it using a powder X-ray diffractometer.如何使用 EO19-PO43-EO19 表面活性剂(Pluronic P84)进行浸涂和旋涂制备具有纳米多孔双连续立方相二氧化硅薄膜,并使用粉末 X 射线衍射仪进行了解。
Langmuir. 2010 Mar 16;26(6):4357-67. doi: 10.1021/la903443p.
9
Order and orientation control of mesoporous silica films on conducting gold substrates formed by dip-coating and self-assembly: a grazing angle of incidence small-angle X-ray scattering and field emission scanning electron microscopy study.通过浸涂和自组装在导电金基底上形成的介孔二氧化硅薄膜的有序性和取向控制:掠入射角小角X射线散射和场发射扫描电子显微镜研究
Langmuir. 2005 Oct 25;21(22):10112-8. doi: 10.1021/la050595h.
10
Review of the applications of x-ray refraction and the x-ray waveguide phenomenon to estimation of film structures.X 射线折射和 X 射线波导现象在薄膜结构估计中的应用综述。
J Phys Condens Matter. 2010 Dec 1;22(47):474006. doi: 10.1088/0953-8984/22/47/474006. Epub 2010 Nov 15.