主成分分析(PCA)辅助的飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS):一种用于研究自组装单分子层和多分子层的通用方法,这些自组装单分子层和多分子层可作为纳米级器件自下而上方法的前驱体。 - Suppr | 超能文献