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利用位置敏感探测器提高弯曲晶体X射线光谱仪的能量分辨率。

Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors.

作者信息

Honkanen Ari Pekka, Verbeni Roberto, Simonelli Laura, Moretti Sala Marco, Al-Zein Ali, Krisch Michael, Monaco Giulio, Huotari Simo

机构信息

Department of Physics, PO Box 64, FI-00014 Helsinki, Finland.

European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble Cedex, France.

出版信息

J Synchrotron Radiat. 2014 Jul;21(Pt 4):762-7. doi: 10.1107/S1600577514011163. Epub 2014 Jun 12.

DOI:10.1107/S1600577514011163
PMID:24971972
原文链接:https://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC4861880/
Abstract

Wavelength-dispersive high-resolution X-ray spectrometers often employ elastically bent crystals for the wavelength analysis. In a preceding paper [Honkanen et al. (2014). J. Synchrotron Rad. 21, 104-110] a theory for quantifying the internal stress of a macroscopically large spherically curved analyser crystal was presented. Here the theory is applied to compensate for the corresponding decrease of the energy resolution. The technique is demonstrated with a Johann-type spectrometer using a spherically bent Si(660) analyser in near-backscattering geometry, where an improvement in the energy resolution from 1.0 eV down to 0.5 eV at 9.7 keV incident photon energy was observed.

摘要

波长色散高分辨率X射线光谱仪通常采用弹性弯曲晶体进行波长分析。在之前的一篇论文[洪卡宁等人（2014年）。《同步辐射辐射杂志》21，104 - 110]中，提出了一种用于量化宏观大尺寸球形弯曲分析晶体内部应力的理论。在此，该理论被应用于补偿能量分辨率的相应降低。该技术在一台采用球形弯曲Si(660)分析晶体的约翰型光谱仪上得到了验证，该光谱仪处于近背散射几何构型，在9.7 keV的入射光子能量下，观察到能量分辨率从1.0 eV提高到了0.5 eV。

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