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用于倾斜稳健图像量化的最佳环形暗场扫描透射电子显微镜成像参数。

Optimal ADF STEM imaging parameters for tilt-robust image quantification.

作者信息

MacArthur K E, D'Alfonso A J, Ozkaya D, Allen L J, Nellist P D

机构信息

Department of Materials, University of Oxford, Parks Road OX1 3PH, UK.

School of Physics, University of Melbourne, Parkville, Victoria 2010, Australia.

出版信息

Ultramicroscopy. 2015 Sep;156:1-8. doi: 10.1016/j.ultramic.2015.04.010. Epub 2015 Apr 28.

DOI:10.1016/j.ultramic.2015.04.010
PMID:25957734
Abstract

An approach towards experiment design and optimisation is proposed for achieving improved accuracy of ADF STEM quantification. In particular, improved robustness to small sample mis-tilts can be achieved by optimising detector collection and probe convergence angles. A decrease in cross section is seen for tilted samples due to the reduction in channelling, resulting in a quantification error, if this is not taken into account. At a smaller detector collection angle the increased contribution from elastic scattering, which initially increases with tilt, can be used to offset the decrease in the TDS signal.

摘要

提出了一种用于实验设计和优化的方法,以提高环形暗场扫描透射电子显微镜(ADF STEM)定量分析的准确性。特别是,通过优化探测器收集角和探针会聚角,可以提高对小样品误倾斜的鲁棒性。由于沟道效应的减少,倾斜样品的截面会减小,如果不考虑这一点,会导致定量误差。在较小的探测器收集角下,弹性散射的贡献增加,其最初随倾斜度增加,可用于抵消热漫散射(TDS)信号的减少。

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