• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利:CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法,用中文像聊天一样搜索,搜遍4000万医学文献。AI智能推荐,让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版,准确专业,支持PDF/Word/PPT等文件格式,支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述,25分钟生成高质量综述,智能提取关键信息,辅助科研写作。

立即免费体验

立方晶体会聚束电子衍射图案中HOLZ线索引的系统程序。

Systematic procedure for indexing HOLZ lines in convergent beam electron diffraction patterns of cubic crystal.

作者信息

Fournier D, L'Esperance G, Saint-Jacques R G

机构信息

INRS-Energie, Varennes, Quebec, Canada.

出版信息

J Electron Microsc Tech. 1989 Oct;13(2):123-49. doi: 10.1002/jemt.1060130205.

DOI:10.1002/jemt.1060130205
PMID:2809769
Abstract

This article has been written for experimenters who are beginning to work with convergent beam electron diffraction patterns (CBED). The indexing of the higher-order Laue zone (HOLZ) lines inside the central spot of a CBED pattern is the first step towards studying variations in lattice parameter and three-dimensional (3D) symmetry. To index the HOLZ lines one must construct and index the HOLZ, find its interplanar spacing and the location of its projection on the zero order Laüe zone (ZOLZ) for a given zone axis, and finally find the radius of the HOLZ ring. A computer program has been developed to perform all these tasks for cubic crystals and is very useful, especially when one varies parameters such as operating voltage, zone axis, lattice parameter, and crystalline structure.

摘要

本文是为刚开始使用会聚束电子衍射图案(CBED)的实验人员撰写的。对CBED图案中心斑点内高阶劳厄区(HOLZ)线进行指标化是研究晶格参数变化和三维(3D)对称性的第一步。为了对HOLZ线进行指标化,必须构建并指标化HOLZ,找到其晶面间距以及在给定晶带轴下其在零阶劳厄区(ZOLZ)上的投影位置,最后找到HOLZ环的半径。已经开发了一个计算机程序来为立方晶体执行所有这些任务,该程序非常有用,特别是当改变诸如操作电压、晶带轴、晶格参数和晶体结构等参数时。

相似文献

1
Systematic procedure for indexing HOLZ lines in convergent beam electron diffraction patterns of cubic crystal.立方晶体会聚束电子衍射图案中HOLZ线索引的系统程序。
J Electron Microsc Tech. 1989 Oct;13(2):123-49. doi: 10.1002/jemt.1060130205.
2
Simple procedure for phase identification using convergent beam electron diffraction patterns.利用会聚束电子衍射图样进行相鉴定的简单方法。
Microsc Res Tech. 1996 Apr 15;33(6):510-5. doi: 10.1002/(SICI)1097-0029(19960415)33:6<510::AID-JEMT6>3.0.CO;2-O.
3
Primitive unit cell volumes obtained from unindexed convergent-beam electron diffraction patterns.从未索引的会聚束电子衍射图案中获得的原胞体积。
J Electron Microsc Tech. 1991 Aug;18(4):437-9. doi: 10.1002/jemt.1060180413.
4
Determination of unit cell.晶胞的测定
J Electron Microsc Tech. 1989 Sep;13(1):16-26. doi: 10.1002/jemt.1060130105.
5
Sensitive detection of mirror symmetry by CBED applied to LaAlO3 and GdAlO3.应用会聚束电子衍射(CBED)对LaAlO₃和GdAlO₃进行镜面对称性的灵敏检测。
Acta Crystallogr B. 2007 Feb;63(Pt 1):69-74. doi: 10.1107/S0108768106045381. Epub 2007 Jan 15.
6
An algorithm for refinement of lattice parameters using CBED patterns.一种使用会聚束电子衍射(CBED)图案细化晶格参数的算法。
Ultramicroscopy. 2007 Apr-May;107(4-5):390-5. doi: 10.1016/j.ultramic.2006.10.003. Epub 2006 Nov 7.
7
HANSIS software tool for the automated analysis of HOLZ lines.用于自动分析菊池线的HANSIS软件工具。
Ultramicroscopy. 2009 Jun;109(7):837-44. doi: 10.1016/j.ultramic.2009.03.026. Epub 2009 Mar 24.
8
Theory of zone axis electron diffraction.晶带轴电子衍射理论
J Electron Microsc Tech. 1989 Oct;13(2):77-97. doi: 10.1002/jemt.1060130202.
9
Quantitative analysis of HOLZ line splitting in CBED patterns of epitaxially strained layers.外延应变层会聚束电子衍射(CBED)图案中高阶劳厄区(HOLZ)线分裂的定量分析。
Ultramicroscopy. 2006 Aug-Sep;106(10):951-9. doi: 10.1016/j.ultramic.2006.04.011. Epub 2006 May 17.
10
Lattice parameter determination of a strained area of an InAs layer on a GaAs substrate using CBED.
J Electron Microsc (Tokyo). 2004;53(1):11-9. doi: 10.1093/jmicro/53.1.11.