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X 射线荧光强度比检测的快速化学对比。

Fast Chemical Contrast by X-ray Fluorescence Intensity Ratio Detection.

机构信息

ESRF - The European Synchrotron, 71 Avenue des Martyrs, 38000 Grenoble, France.

出版信息

Anal Chem. 2023 Jun 13;95(23):8758-8762. doi: 10.1021/acs.analchem.3c00623. Epub 2023 May 26.

DOI:10.1021/acs.analchem.3c00623
PMID:37235752
Abstract

We describe a protocol for efficient detection of the chemical state of an element based on X-ray emission (fluorescence) spectroscopy using a Bragg optics spectrometer. The ratio of intensities at two appropriately chosen X-ray emission energies is a self-normalized quantity largely free of experimental artifacts and can thus be recorded with high accuracy. As the X-ray fluorescence lines are chemically sensitive, the intensity ratio identifies the chemical state. Differences between chemical states in spatially inhomogeneous or temporally evolving samples can be identified already with low numbers of photon events. This reduces the time required for data acquisition by 2 orders of magnitude as compared to recording a full spectrum.

摘要

我们描述了一种基于布拉格光学光谱仪的 X 射线发射(荧光)光谱法,用于高效检测元素化学状态的方案。两个适当选择的 X 射线发射能量的强度比是一个自标准化的量,很大程度上不受实验伪影的影响,因此可以高精度记录。由于 X 射线荧光线具有化学敏感性,强度比可以识别化学状态。在空间不均匀或时间演化的样品中,化学状态的差异可以用低数量的光子事件来识别。与记录全谱相比,这将数据采集所需的时间减少了两个数量级。

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引用本文的文献

1
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