Suppr超能文献

具备高级采样支持的扫描探针显微镜控制器。

Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support.

作者信息

Valtr Miroslav, Klapetek Petr, Martinek Jan, Novotný Ondřej, Jelínek Zdeněk, Hortvík Václav, Nečas David

机构信息

Czech Metrology Institute, Okružní 31, 638 00 Brno, Czech Republic.

CEITEC, Brno University of Technology, Purkyňova 123, 612 00 Brno, Czech Republic.

出版信息

HardwareX. 2023 Jul 7;15:e00451. doi: 10.1016/j.ohx.2023.e00451. eCollection 2023 Sep.

Abstract

A low-cost Digital Signal Processor (DSP) unit for advanced Scanning Probe Microscopy measurements is presented. It is based on Red Pitaya board and custom built electronic boards with additional high bit depth AD and DA converters. By providing all the necessary information (position and time) with each data point collected it can be used for any scan path, using either existing libraries for scan path generation or creating adaptive scan paths using Lua scripting interface. The DSP is also capable of performing statistical calculations, that can be used for decision making during scan or for the scan path optimisation on the DSP level.

摘要

本文介绍了一种用于先进扫描探针显微镜测量的低成本数字信号处理器(DSP)单元。它基于红火龙果开发板和定制的电子板,这些电子板配备了额外的高位深模数(AD)和数模(DA)转换器。通过在采集的每个数据点提供所有必要信息(位置和时间),它可用于任何扫描路径,既可以使用现有的扫描路径生成库,也可以使用Lua脚本接口创建自适应扫描路径。该DSP还能够执行统计计算,这些计算可用于扫描期间的决策或在DSP级别上进行扫描路径优化。

https://cdn.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/blobs/318e/10366577/4b17149df007/ga1.jpg

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