[电子显微镜检查染色体的新技术] - Suppr

[New technic for examination of chromosomes by electron microscopy].

Geneix A, Jaffray J Y, Périssel B

C R Acad Hebd Seances Acad Sci D. 1973 Nov 19;277(20):2213-4.

Abstract

摘要

C R Acad Hebd Seances Acad Sci D. 1973 Nov 19;277(20):2213-4.

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