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A simple system to alleviate handling damage to electron microscopy grids.

作者信息

Rowden G

出版信息

J R Microsc Soc. 1968;88(4):595-6. doi: 10.1111/j.1365-2818.1968.tb00638.x.

DOI:10.1111/j.1365-2818.1968.tb00638.x
PMID:5726937
Abstract
摘要

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