• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利:CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法,用中文像聊天一样搜索,搜遍4000万医学文献。AI智能推荐,让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版,准确专业,支持PDF/Word/PPT等文件格式,支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述,25分钟生成高质量综述,智能提取关键信息,辅助科研写作。

立即免费体验

X-ray spectrometer attachments for Elmiskop I electron microscope.

作者信息

Fuchs E

出版信息

Rev Sci Instrum. 1966 May;37(5):623-6. doi: 10.1063/1.1720267.

DOI:10.1063/1.1720267
PMID:5932464
Abstract
摘要

相似文献

1
X-ray spectrometer attachments for Elmiskop I electron microscope.用于埃尔米斯科普I型电子显微镜的X射线光谱仪附件。
Rev Sci Instrum. 1966 May;37(5):623-6. doi: 10.1063/1.1720267.
2
[A simple additional device for the Siemens electron microscope Elmiskop EM-101 to introduce specimen without air-contact (author's transl)].
Microsc Acta. 1979 Jul;82(1):31-5.
3
[On the mutual action of electrons and matter].[论电子与物质的相互作用]
Mikroskopie. 1967 Mar;21(5):122-41.
4
The modification of the electron microscope for special crystallographic applications.用于特殊晶体学应用的电子显微镜的改进。
Ultramicroscopy. 1976 Dec;2(1):43-8. doi: 10.1016/s0304-3991(76)90314-4.
5
Electron microscopy and spectroscopy on the ultrafast timescale.
Chemphyschem. 2010 Mar 15;11(4):781-2. doi: 10.1002/cphc.200900937.
6
A corrected double-deflection electron spectrometer equipped with a parallel recording system.
Ultramicroscopy. 1989 Apr 1;28(1-4):190-200. doi: 10.1016/0304-3991(89)90292-1.
7
A simple device for numbering photographic material in the Siemens Elmiskop 1 A.一种用于在西门子Elmiskop 1 A型电子显微镜中对摄影材料进行编号的简单装置。
Microsc Acta. 1973 May;74(2):140-2.
8
Publications concerning microscopic equipment, methods and applications.
Microsc Acta. 1976 Sep;78(4):335-70.
9
Through a Window, Brightly: A Review of Selected Nanofabricated Thin-Film Platforms for Spectroscopy, Imaging, and Detection.透过窗户,明亮:综述选定的用于光谱学、成像和检测的纳米制造薄膜平台。
Appl Spectrosc. 2017 Sep;71(9):2051-2075. doi: 10.1177/0003702817715496. Epub 2017 Jul 17.
10
X-ray microanalysis attachment for electron microscope.用于电子显微镜的X射线微分析附件。
J Electron Microsc (Tokyo). 1967;16(2):120-5.