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A new embedding medium available for stereoscopic observation of semi-thin sections under 200 kV transmission electron microscope.

作者信息

Kushida H, Kushida T, Yonehara K, Nakazawa E

出版信息

J Electron Microsc (Tokyo). 1983;32(1):61-5.

PMID:6352846
Abstract
摘要

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A new embedding medium available for stereoscopic observation of semi-thin sections under 200 kV transmission electron microscope.一种可用于在200 kV透射电子显微镜下对半薄切片进行立体观察的新型包埋介质。
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