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X射线增感屏/胶片系统特性曲线测量中的误差检验。

An examination of errors in characteristic curve measurements of radiographic screen/film systems.

作者信息

Wagner L K, Barnes G T, Bencomo J A, Haus A G

出版信息

Med Phys. 1983 May-Jun;10(3):365-9. doi: 10.1118/1.595285.

DOI:10.1118/1.595285
PMID:6877185
Abstract

The precision and accuracy achieved in the measurement of characteristic curves for radiographic screen/film systems is quantitatively investigated for three techniques: inverse square, kVp bootstrap, and step-wedge bootstrap. Precision of all techniques is generally better than +/- 1.5% while the agreement among all intensity-scale techniques is better than 2% over the useful exposure latitude. However, the accuracy of the sensitometry will depend on several factors, including linearity and energy dependence of the calibration instrument, that may introduce larger errors. Comparisons of time-scale and intensity-scale methods are made and a means of measuring reciprocity law failure is demonstrated.

摘要

对三种技术(反平方法、千伏值自举法和阶梯楔形自举法)在测量射线照相屏/片系统特性曲线时所达到的精度和准确性进行了定量研究。所有技术的精度通常优于±1.5%,而在有用的曝光宽容度范围内,所有强度标度技术之间的一致性优于2%。然而,感光测定法的准确性将取决于几个因素,包括校准仪器的线性和能量依赖性,这些因素可能会引入更大的误差。对时间标度法和强度标度法进行了比较,并展示了一种测量互易律失效的方法。

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