• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利：CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法，用中文像聊天一样搜索，搜遍4000万医学文献。AI智能推荐，让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版，准确专业，支持PDF/Word/PPT等文件格式，支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述，25分钟生成高质量综述，智能提取关键信息，辅助科研写作。

立即免费体验

[Clinical engineering safety and technical service centers (author's transl)].

作者信息

Kreysch W, Schietzel M

出版信息

Biomed Tech (Berl). 1980 May;25(5):112-5. doi: 10.1515/bmte.1980.25.5.112.

DOI:10.1515/bmte.1980.25.5.112
PMID:7448306
Abstract
摘要

相似文献

1
[Clinical engineering safety and technical service centers (author's transl)].临床工程安全与技术服务中心（作者译）
Biomed Tech (Berl). 1980 May;25(5):112-5. doi: 10.1515/bmte.1980.25.5.112.
2
Mechanical hazards in clinical equipment.临床设备中的机械危害。
J Clin Eng. 1980 Apr-Jun;5(2):133-8. doi: 10.1097/00004669-198004000-00008.
3
Benchmarking hospital-based technical services. Interview by John Hanpeter.基于医院的技术服务基准评估。约翰·汉彼得访谈
Biomed Instrum Technol. 1995 Jan-Feb;29(1):16-23.
4
Equipment management risk rating system based on engineering endpoints.
Biomed Instrum Technol. 1999 Mar-Apr;33(2):115-20.
5
Learning from failure: the teachings of Petroski.从失败中学习：彼得罗斯基的教诲。
Biomed Instrum Technol. 2007 Sep-Oct;41(5):395-8. doi: 10.2345/0899-8205(2007)41[395:LFFTTO]2.0.CO;2.
6
Validating medical equipment repair and maintenance metrics: a progress report.
Biomed Instrum Technol. 1997 Jan-Feb;31(1):23-32.
7
Hospital engineer has vital safety responsibilities.
Health Care Newsl. 1979 Mar:1p.
8
[EDP-program for the administration and evaluation of technical medical data (author's transl)].用于技术医学数据管理与评估的电子数据处理程序（作者译）
Biomed Tech (Berl). 1981 Mar;26(3):55-62. doi: 10.1515/bmte.1981.26.3.55.
9
Risk and reliability techniques applied to design and maintenance management decisions.
Hosp Eng. 1981 Dec;35(10):8-15.
10
Electrical safety.电气安全
Am J EEG Technol. 1980 Mar;20(1):1-13.