• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利：CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法，用中文像聊天一样搜索，搜遍4000万医学文献。AI智能推荐，让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版，准确专业，支持PDF/Word/PPT等文件格式，支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述，25分钟生成高质量综述，智能提取关键信息，辅助科研写作。

立即免费体验

Direct measurement of reaction kinetics for the decomposition of ultrathin oxide on Si(001) using scanning tunneling microscopy.

作者信息

Johnson KE, Engel T

出版信息

Phys Rev Lett. 1992 Jul 13;69(2):339-342. doi: 10.1103/PhysRevLett.69.339.

DOI:10.1103/PhysRevLett.69.339
PMID:10046648
Abstract
摘要

相似文献

1
Direct measurement of reaction kinetics for the decomposition of ultrathin oxide on Si(001) using scanning tunneling microscopy.使用扫描隧道显微镜直接测量硅（001）上超薄氧化物分解的反应动力学。
Phys Rev Lett. 1992 Jul 13;69(2):339-342. doi: 10.1103/PhysRevLett.69.339.
2
Probing the thermal decomposition behaviors of ultrathin HfO2 films by an in situ high temperature scanning tunneling microscope.原位高温扫描隧道显微镜研究超薄 HfO2 薄膜的热分解行为。
Nanotechnology. 2011 May 13;22(19):195705. doi: 10.1088/0957-4484/22/19/195705. Epub 2011 Mar 23.
3
Thermal decomposition of an ultrathin Si oxide layer around a Si(001)-(2 x 1) window.硅（001）-（2×1）窗口周围超薄氧化硅层的热分解
Phys Rev Lett. 2000 Jan 31;84(5):1043-6. doi: 10.1103/PhysRevLett.84.1043.
4
Inhomogeneous decomposition of ultrathin oxide films on Si(100): application of Avrami kinetics to thermal desorption spectra.硅（100）上超薄氧化膜的非均匀分解：阿弗拉米动力学在热脱附谱中的应用
J Chem Phys. 2008 Apr 28;128(16):164712. doi: 10.1063/1.2905209.
5
Diffusional kinetics of SiGe dimers on Si(100) using atom-tracking scanning tunneling microscopy.
Phys Rev Lett. 2000 Oct 23;85(17):3660-3. doi: 10.1103/PhysRevLett.85.3660.
6
Three-dimensional scanning force/tunneling spectroscopy at room temperature.室温下的三维扫描力/隧道光谱学。
J Phys Condens Matter. 2012 Feb 29;24(8):084008. doi: 10.1088/0953-8984/24/8/084008. Epub 2012 Feb 7.
7
Scanning photoemission spectromicroscopic study of 4-nm ultrathin SiO(3.4) protrusions probe-induced on the native SiO(2) layer.扫描光发射谱学研究在本征二氧化硅层上诱导的 4nm 超薄 SiO(3.4)突起
Microsc Microanal. 2011 Dec;17(6):944-9. doi: 10.1017/S1431927611011901. Epub 2011 Oct 11.
8
Control and characterization of cyclopentene unimolecular dissociation on Si(100) with scanning tunneling microscopy.利用扫描隧道显微镜对硅（100）上环戊烯单分子解离的控制与表征
J Am Chem Soc. 2009 Jul 29;131(29):10059-65. doi: 10.1021/ja9010546.
9
Validation of density-functional versus density-functional+U approaches for oxide ultrathin films.氧化物超薄薄膜中密度泛函与密度泛函+U 方法的验证。
J Chem Phys. 2010 Mar 28;132(12):124703. doi: 10.1063/1.3366689.
10
Oxygen-deficient line defects in an ultrathin aluminum oxide film.超薄氧化铝薄膜中的缺氧线缺陷
Phys Rev Lett. 2006 Jul 28;97(4):046101. doi: 10.1103/PhysRevLett.97.046101. Epub 2006 Jul 24.

引用本文的文献

1
Chemical and kinetic insights into the Thermal Decomposition of an Oxide Layer on Si(111) from Millisecond Photoelectron Spectroscopy.基于毫秒光电子能谱对Si(111)上氧化层热分解的化学与动力学见解
Sci Rep. 2017 Oct 27;7(1):14257. doi: 10.1038/s41598-017-14532-4.