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Identification of strained silicon layers at Si-SiO2 interfaces and clean Si surfaces by nonlinear optical spectroscopy.

作者信息

Daum W, Krause H, Reichel U, Ibach H

出版信息

Phys Rev Lett. 1993 Aug 23;71(8):1234-1237. doi: 10.1103/PhysRevLett.71.1234.

DOI:10.1103/PhysRevLett.71.1234
PMID:10055484
Abstract
摘要

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1
Identification of strained silicon layers at Si-SiO2 interfaces and clean Si surfaces by nonlinear optical spectroscopy.通过非线性光谱法识别硅-二氧化硅界面处的应变硅层和清洁的硅表面。
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引用本文的文献

1
A few selected applications of surface nonlinear optical spectroscopy.表面非线性光学光谱学的一些选定应用。
Proc Natl Acad Sci U S A. 1996 Oct 29;93(22):12104-11. doi: 10.1073/pnas.93.22.12104.