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软X射线(Z = 30 - 36,Z = 60 - 89,E = 0.1 - 10 keV)吸收边附近原子形状因子、光电吸收和散射截面以及质量衰减系数的详细列表——解决早期工作的收敛问题。

Detailed tabulation of atomic form factors, photoelectric absorption and scattering cross section, and mass attenuation coefficients in the vicinity of absorption edges in the soft X-ray (Z = 30-36, Z = 60-89, E = 0.1-10 keV)--addressing convergence issues of earlier work.

作者信息

Chantler C T

出版信息

J Synchrotron Radiat. 2001 Jul 1;8(4):1124. doi: 10.1107/s0909049501008305.

Abstract

A new tabulation of atomic form factors is discussed briefly, extending the validity of the isolated atom approximation and serving as a baseline for near-edge solid-state and XAFS investigations. This is detailed by Chantler [J. Phys. Chem. Ref. Data, (2000), 29, 597-1048] and is the latest component of the FFAST tabulation of NIST.

摘要

简要讨论了一种新的原子形状因子列表,它扩展了孤立原子近似的有效性,并作为近边缘固态和XAFS研究的基线。Chantler [《物理化学参考数据杂志》,(2000),29,597 - 1048]对此进行了详细阐述,它是美国国家标准与技术研究院(NIST)的FFAST列表的最新组成部分。

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