• 文献检索
  • 文档翻译
  • 深度研究
  • 学术资讯
  • Suppr Zotero 插件Zotero 插件
  • 邀请有礼
  • 套餐&价格
  • 历史记录
应用&插件
Suppr Zotero 插件Zotero 插件浏览器插件Mac 客户端Windows 客户端微信小程序
定价
高级版会员购买积分包购买API积分包
服务
文献检索文档翻译深度研究API 文档MCP 服务
关于我们
关于 Suppr公司介绍联系我们用户协议隐私条款
关注我们

Suppr 超能文献

核心技术专利:CN118964589B侵权必究
粤ICP备2023148730 号-1Suppr @ 2026

文献检索

告别复杂PubMed语法,用中文像聊天一样搜索,搜遍4000万医学文献。AI智能推荐,让科研检索更轻松。

立即免费搜索

文件翻译

保留排版,准确专业,支持PDF/Word/PPT等文件格式,支持 12+语言互译。

免费翻译文档

深度研究

AI帮你快速写综述,25分钟生成高质量综述,智能提取关键信息,辅助科研写作。

立即免费体验

块状固体中单个原子的光谱成像。

Spectroscopic imaging of single atoms within a bulk solid.

作者信息

Varela M, Findlay S D, Lupini A R, Christen H M, Borisevich A Y, Dellby N, Krivanek O L, Nellist P D, Oxley M P, Allen L J, Pennycook S J

机构信息

Condensed Matter Sciences Division, Oak Ridge National Laboratory, P.O. Box 2008, Oak Ridge, Tennessee 37831-6030, USA.

出版信息

Phys Rev Lett. 2004 Mar 5;92(9):095502. doi: 10.1103/PhysRevLett.92.095502. Epub 2004 Mar 3.

DOI:10.1103/PhysRevLett.92.095502
PMID:15089484
Abstract

The ability to localize, identify, and measure the electronic environment of individual atoms will provide fundamental insights into many issues in materials science, physics, and nanotechnology. We demonstrate, using an aberration-corrected scanning transmission electron microscope, the spectroscopic imaging of single La atoms inside CaTiO3. Dynamical simulations confirm that the spectroscopic information is spatially confined around the scattering atom. Furthermore, we show how the depth of the atom within the crystal may be estimated.

摘要

对单个原子的电子环境进行定位、识别和测量的能力,将为材料科学、物理学和纳米技术中的许多问题提供基本见解。我们使用像差校正扫描透射电子显微镜,展示了CaTiO₃ 内部单个镧原子的光谱成像。动力学模拟证实,光谱信息在空间上局限于散射原子周围。此外,我们展示了如何估计晶体中原子的深度。

相似文献

1
Spectroscopic imaging of single atoms within a bulk solid.块状固体中单个原子的光谱成像。
Phys Rev Lett. 2004 Mar 5;92(9):095502. doi: 10.1103/PhysRevLett.92.095502. Epub 2004 Mar 3.
2
Atomic-resolution electron energy loss spectroscopy imaging in aberration corrected scanning transmission electron microscopy.像差校正扫描透射电子显微镜中的原子分辨率电子能量损失谱成像
Phys Rev Lett. 2003 Sep 5;91(10):105503. doi: 10.1103/PhysRevLett.91.105503.
3
Proceedings of the Second Workshop on Theory meets Industry (Erwin-Schrödinger-Institute (ESI), Vienna, Austria, 12-14 June 2007).第二届理论与产业研讨会会议录(2007年6月12日至14日,奥地利维也纳埃尔温·薛定谔研究所)
J Phys Condens Matter. 2008 Feb 13;20(6):060301. doi: 10.1088/0953-8984/20/06/060301. Epub 2008 Jan 24.
4
Direct observation of dopant atom diffusion in a bulk semiconductor crystal enhanced by a large size mismatch.通过大尺寸失配增强对体半导体晶体中掺杂原子扩散的直接观察。
Phys Rev Lett. 2014 Oct 10;113(15):155501. doi: 10.1103/PhysRevLett.113.155501. Epub 2014 Oct 6.
5
Elastic scattering of high-energy electrons by dopant atoms within a crystal in transmission electron microscopy.透射电子显微镜中高能电子在晶体内部被掺杂原子的弹性散射。
Acta Crystallogr A. 2008 Nov;64(Pt 6):613-24. doi: 10.1107/S0108767308024574. Epub 2008 Oct 7.
6
Aberration-corrected STEM for atomic-resolution imaging and analysis.用于原子分辨率成像和分析的像差校正扫描透射电子显微镜。
J Microsc. 2015 Sep;259(3):165-72. doi: 10.1111/jmi.12254. Epub 2015 May 4.
7
Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part II: inelastic scattering.双像差校正扫描共聚焦电子显微镜中的三维成像,第二部分:非弹性散射
Ultramicroscopy. 2008 Nov;108(12):1567-78. doi: 10.1016/j.ultramic.2008.05.007. Epub 2008 Jun 1.
8
Limits in detecting an individual dopant atom embedded in a crystal.在晶体中探测单个掺杂原子的极限。
Ultramicroscopy. 2011 Jul;111(8):1101-10. doi: 10.1016/j.ultramic.2011.03.002. Epub 2011 Mar 21.
9
Depth-dependent imaging of individual dopant atoms in silicon.硅中单个掺杂原子的深度依赖成像。
Microsc Microanal. 2004 Apr;10(2):291-300. doi: 10.1017/S1431927604040012.
10
Three-dimensional coordinates of individual atoms in materials revealed by electron tomography.电子断层扫描揭示材料中单个原子的三维坐标。
Nat Mater. 2015 Nov;14(11):1099-103. doi: 10.1038/nmat4426. Epub 2015 Sep 21.

引用本文的文献

1
Robust Spectral Anomaly Detection in EELS Spectral Images via 3D Convolutional Variational Autoencoders.通过三维卷积变分自动编码器在电子能量损失谱图像中进行稳健的光谱异常检测。
Small. 2025 Aug;21(33):e2503019. doi: 10.1002/smll.202503019. Epub 2025 Jul 6.
2
Phase Imaging Methods in the Scanning Transmission Electron Microscope.扫描透射电子显微镜中的相成像方法
Nano Lett. 2025 Jul 9;25(27):10709-10721. doi: 10.1021/acs.nanolett.4c06697. Epub 2025 Jun 28.
3
Phonon dispersion of buckled two-dimensional GaN.褶皱二维氮化镓的声子色散
Nat Commun. 2024 Nov 30;15(1):10436. doi: 10.1038/s41467-024-54921-8.
4
Dynamic STEM-EELS for single-atom and defect measurement during electron beam transformations.用于电子束转换过程中单原子和缺陷测量的动态扫描透射电子显微镜能量过滤谱
Sci Adv. 2024 Jul 19;10(29):eadn5899. doi: 10.1126/sciadv.adn5899. Epub 2024 Jul 17.
5
Analytical electron microscopy analysis of insulating and metallic phases in nanostructured vanadium dioxide.纳米结构二氧化钒中绝缘相和金属相的分析电子显微镜分析
Nanoscale Adv. 2024 May 3;6(13):3338-3346. doi: 10.1039/d4na00338a. eCollection 2024 Jun 25.
6
Identifying and manipulating single atoms with scanning transmission electron microscopy.利用扫描透射电子显微镜识别和操纵单原子。
Chem Commun (Camb). 2022 Nov 3;58(88):12274-12285. doi: 10.1039/d2cc04807h.
7
Exploring order parameters and dynamic processes in disordered systems via variational autoencoders.通过变分自编码器探索无序系统中的序参量和动态过程。
Sci Adv. 2021 Apr 21;7(17). doi: 10.1126/sciadv.abd5084. Print 2021 Apr.
8
Direct Atomic-Level Imaging of Zeolites: Oxygen, Sodium in Na-LTA and Iron in Fe-MFI.沸石的直接原子级成像:Na-LTA中的氧、钠以及Fe-MFI中的铁
Angew Chem Int Ed Engl. 2020 Oct 26;59(44):19510-19517. doi: 10.1002/anie.202006122. Epub 2020 Jul 20.
9
Disentangling topographic contributions to near-field scanning microwave microscopy images.解析近场扫描微波显微镜图像中的形貌贡献。
Ultramicroscopy. 2019 Feb;197:53-64. doi: 10.1016/j.ultramic.2018.11.003. Epub 2018 Nov 12.
10
Estimation of the molecular vibration of gases using electron microscopy.利用电子显微镜估算气体的分子振动。
Sci Rep. 2017 Dec 12;7(1):16434. doi: 10.1038/s41598-017-16423-0.