Suppr超能文献

从 X 射线衍射数据的最小二乘精修中得到的电子布居参数。

Electron Population Parameters from Least-Squares Refinement of X-ray Diffraction Data.

出版信息

Science. 1970 Feb 20;167(3921):1126-8. doi: 10.1126/science.167.3921.1126.

Abstract

A least-squares refinement of x-ray diffraction data has been developed in which the parameters are the populations of atomic orbital products describing the molecular electron density distribution. The procedure is applied to alpha-oxalic acid dihydrate and cyanuric acid. Complementary structural information obtained by neutron diffraction has been used. In the absence of complementary information, the method allows simultaneous determination of structural and charge-density parameters. There is an indication of a migration of charge from the ppi to the psigma orbitals in both molecules.

摘要

已开发出一种最小二乘方的 X 射线衍射数据精修方法,其中参数是描述分子电子密度分布的原子轨道乘积的占有率。该程序应用于草酸二水合物和三聚氰酸。使用了中子衍射获得的补充结构信息。在没有补充信息的情况下,该方法允许同时确定结构和电荷密度参数。这表明在这两个分子中,电荷从 ppi 轨道迁移到 psigma 轨道。

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