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利用传统光学捕获技术通过硅实现活性粒子控制。

Active particle control through silicon using conventional optical trapping techniques.

作者信息

Appleyard David C, Lang Matthew J

机构信息

Department of Biological Engineering, MIT NE47-263, 77 Massachusetts Ave., Cambridge, MA 02139, USA.

出版信息

Lab Chip. 2007 Dec;7(12):1837-40. doi: 10.1039/b711507e. Epub 2007 Oct 10.

DOI:10.1039/b711507e
PMID:18030409
Abstract

Functional integration of optical trapping techniques with silicon surfaces and environments can be realized with minimal modification of conventional optical trapping instruments offering a method to manipulate, track and position cells or non-biological particles over silicon substrates. This technique supports control and measurement advances including the optical control of silicon-based microfluidic devices and precision single molecule measurement of biological interactions at the semiconductor interface. Using a trapping laser in the near infra-red and a reflective imaging arrangement enables object control and measurement capabilities comparable to trapping through a classical glass substrate. The transmission efficiency of the silicon substrate affords the only reduction in trap stiffness. We implement conventional trap calibration, positioning, and object tracking over silicon surfaces. We demonstrate control of multiple objects including cells and complex non-spherical objects on silicon wafers and fabricated surfaces.

摘要

通过对传统光镊仪器进行最小程度的修改,可实现光镊技术与硅表面及环境的功能集成,从而提供一种在硅基衬底上操纵、跟踪和定位细胞或非生物颗粒的方法。该技术支持控制和测量方面的进展,包括基于硅的微流控设备的光学控制以及半导体界面生物相互作用的精确单分子测量。使用近红外捕获激光和反射成像装置,可实现与通过传统玻璃衬底捕获相当的物体控制和测量能力。硅基衬底的传输效率仅会导致捕获刚度有所降低。我们在硅表面实现了传统的陷阱校准、定位和物体跟踪。我们展示了对包括细胞和复杂非球形物体在内的多个物体在硅片和加工表面上的控制。

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引用本文的文献

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