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光学态电磁局域密度的远场成像

Far-field imaging of the electromagnetic local density of optical states.

作者信息

Huang C, Bouhelier A, Colas des Francs G, Legay G, Weeber J-C, Dereux A

机构信息

Institut Carnot de Bourgogne, CNRS-UMR 5209, Université de Bourgogne, 21078 Dijon, France.

出版信息

Opt Lett. 2008 Feb 15;33(4):300-2. doi: 10.1364/ol.33.000300.

DOI:10.1364/ol.33.000300
PMID:18278090
Abstract

We introduce a new experimental method to measure the local electromagnetic density of states (LDOS) by integrating the differential scattering cross section. The signal detected essentially reflects the intrinsic scattering response of the photonic structures and renders the partial LDOS dominated by evanescent modes. We give a theoretical understanding of the LDOS image formation and show a qualitative agreement between experimental images and theoretical maps. This approach can be practically applied to the direct measurement of an optical antenna's scattering efficiency and can provide valuable information for designing optimum structures utilized in radiative decay engineering.

摘要

我们引入了一种新的实验方法,通过积分微分散射截面来测量局部电磁态密度(LDOS)。检测到的信号本质上反映了光子结构的固有散射响应,并使部分LDOS由倏逝模式主导。我们对LDOS图像形成给出了理论理解,并展示了实验图像与理论图谱之间的定性一致性。这种方法可实际应用于直接测量光学天线的散射效率,并可为设计用于辐射衰减工程的最佳结构提供有价值的信息。

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引用本文的文献

1
Far-Field and Non-Intrusive Optical Mapping of Nanoscale Structures.纳米级结构的远场和非侵入式光学映射
Nanomaterials (Basel). 2022 Jul 1;12(13):2274. doi: 10.3390/nano12132274.