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处于纯5p5 2P3/2基态的Xe+离子的光电离截面。

Photoionization cross section of Xe+ ion in the pure 5p5 2P3/2 ground level.

作者信息

Thissen R, Bizau J M, Blancard C, Coreno M, Dehon C, Franceschi P, Giuliani A, Lemaire J, Nicolas C

机构信息

Laboratoire de Planétologie de Grenoble, UMR 5109 du CNRS, Bâtiment D de Physique, B.P. 53, 38041 Grenoble, France.

出版信息

Phys Rev Lett. 2008 Jun 6;100(22):223001. doi: 10.1103/PhysRevLett.100.223001. Epub 2008 Jun 5.

Abstract

Coupling an ion trap with synchrotron radiation is shown here to be a powerful approach to measure photoionization cross sections on ionic species relaxed in their ground state. The photoionization efficiency curve of Xe+ ions stored in a Fourier transform ion cyclotron resonance ion trap was recorded at ELETTRA in the 20-23 eV photon energy range. Absolute cross sections were derived by comparison of the photoionization yield of Xe+ with measurements from the ASTRID merged-beam experiment. Multiconfiguration Dirac-Fock calculations were performed for the interpretation of these new data.

摘要

本文展示了将离子阱与同步辐射相结合是测量处于基态弛豫的离子物种光电离截面的一种强大方法。在ELETTRA上,记录了存储在傅里叶变换离子回旋共振离子阱中的Xe⁺离子在20 - 23 eV光子能量范围内的光电离效率曲线。通过将Xe⁺的光电离产率与ASTRID合并束实验的测量结果进行比较,得出了绝对截面。为解释这些新数据进行了多组态狄拉克 - 福克计算。

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