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回复 Maurice 等人对“电子背散射衍射分析的布拉格定律衍射模拟”的评论。

Reply to comment by Maurice et al. in response to "Bragg's Law Diffraction Simulations for Electron Backscatter Diffraction Analysis".

机构信息

Brigham Young University, 2520B Leeper Dr, Champaign, IL 61822, USA.

出版信息

Ultramicroscopy. 2010 Jun;110(7):741-3. doi: 10.1016/j.ultramic.2010.02.004. Epub 2010 Feb 20.

DOI:10.1016/j.ultramic.2010.02.004
PMID:20189305
Abstract

A reply to Maurice et al.'s comment on "Bragg's Law Diffraction Simulations for Electron Backscatter Diffraction" is presented. A new method for microscope geometry calibration is briefly presented. Also, evidence that simple diffraction simulations can be profitable tools for absolute elastic strain measurements in crystalline materials is reiterated.

摘要

现回复 Maurice 等人对“Bragg 定律在电子背散射衍射中的衍射模拟”一文的评论。文中简要介绍了一种新的显微镜几何校准方法。同时，文中还重申了简单的衍射模拟可以成为晶体材料中绝对弹性应变测量的有用工具这一观点。

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引用本文的文献

1
Simulation of kinematic Kikuchi diffraction patterns from atomistic structures.基于原子结构的运动学菊池衍射花样模拟。
MethodsX. 2018 Sep 6;5:1187-1203. doi: 10.1016/j.mex.2018.09.001. eCollection 2018.