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利用细长光子纳米射流检测嵌入式超亚波长薄介电特征。

Detection of embedded ultra-subwavelength-thin dielectric features using elongated photonic nanojets.

作者信息

Ruiz César Méndez, Simpson Jamesina J

机构信息

Department of Electrical and Computer Engineering, University of New Mexico, 1 University of New Mexico, Albuquerque, NM 87131, USA.

出版信息

Opt Express. 2010 Aug 2;18(16):16805-12. doi: 10.1364/OE.18.016805.

DOI:10.1364/OE.18.016805
PMID:20721072
Abstract

Photonic nanojets have been previously shown (both theoretically and experimentally) to be highly sensitive to the presence of an ultra-subwavelength nanoscale particle within the nanojet. In the present work, photonic nanojets elongated by almost an order of magnitude (relative to the latest previously published work) are found to possess another key characteristic: they are sensitive to the presence of ultra-subwavelength nanoscale thin features embedded within a dielectric object. This additional characteristic of photonic nanojets is demonstrated through comparisons between fundamentally different 3-D and corresponding 1-D full Maxwell's equations finite-difference time-domain (FDTD) models.

摘要

先前已证明(在理论和实验上),光子纳米射流对纳米射流内超亚波长纳米级粒子的存在高度敏感。在本工作中,发现(相对于之前发表的最新工作)拉长了近一个数量级的光子纳米射流具有另一个关键特性:它们对嵌入电介质物体内的超亚波长纳米级薄特征的存在敏感。通过对根本不同的三维和相应的一维全麦克斯韦方程组时域有限差分(FDTD)模型进行比较,证明了光子纳米射流的这一附加特性。

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