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利用同步辐射傅里叶变换红外显微镜对多层闪光粒子进行表征。

Characterization of multilayered glitter particles using synchrotron FT-IR microscopy.

机构信息

Ecole Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Caen, France.

出版信息

Forensic Sci Int. 2011 Jul 15;210(1-3):47-51. doi: 10.1016/j.forsciint.2011.01.033. Epub 2011 Feb 26.

DOI:10.1016/j.forsciint.2011.01.033
PMID:21354727
Abstract

Multilayered glitter particles were cut with a microtome into thin cross-sections and examined using an FT-IR microscope with a synchrotron infrared source. The high brightness of the synchrotron source enabled high-quality infrared spectra to be quickly obtained from individual layers in the glitter particle cross-section, providing additional chemical information that could increase the glitter particle's value as associative evidence in criminal cases.

摘要

多层闪光粒子被切片机切成薄片,然后使用具有同步辐射红外源的傅里叶变换红外显微镜进行检查。同步辐射源的高亮度使得能够从闪光粒子截面的各个层快速获得高质量的红外光谱,提供了额外的化学信息,这些信息可以增加闪光粒子在刑事案件中作为关联证据的价值。

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