泄漏辐射轮廓是否反映表面等离子体激元强度轮廓？：评论。
Does the leakage radiation profile mirror the intensity profile of surface plasmon polaritons?: comment.
机构信息
Department of Physics, Texas Tech University, Lubbock, Texas 79409, USA. luis.grave‐de‐
出版信息
Opt Lett. 2011 Jul 1;36(13):2516; discussion 2517. doi: 10.1364/OL.36.002516.
PMID:21725463
Abstract
We comment on a recent paper [Opt. Lett.35, 1944 (2010)].
摘要
我们评论了最近的一篇论文[Opt. Lett.35, 1944 (2010)]。
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