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用于低温光退火功能氧化物薄膜的水溶液:突破 400°C 的 Si 技术集成障碍。

Aqueous solutions for low-temperature photoannealing of functional oxide films: reaching the 400 °C Si-technology integration barrier.

机构信息

Inorganic and Physical Chemistry Group, Institute for Materials Research, Universiteit Hasselt, IMEC vzw, Division IMOMEC, B-3590 Diepenbeek, Belgium.

出版信息

J Am Chem Soc. 2011 Aug 24;133(33):12922-5. doi: 10.1021/ja203553n. Epub 2011 Aug 1.

Abstract

Functional oxide films were obtained at low temperature by combination of aqueous precursors and a UV-assisted annealing process (aqueous photochemical solution deposition). For a PbTiO(3) model system, functional ferroelectric perovskite films were prepared at only 400 °C, a temperature compatible with the current Si-technology demands. Intrinsically photosensitive and environmentally friendly aqueous precursors can be prepared for most of the functional multimetal oxides, as additionally demonstrated here for multiferroic BiFeO(3), yielding virtually unlimited possibilities for this low-temperature fabrication technology.

摘要

通过水相前驱体和紫外辅助退火工艺(水相光化学溶液沉积)的结合,在低温下获得了功能氧化物薄膜。对于 PbTiO(3) 模型体系,仅在 400°C 下制备了功能性铁电钙钛矿薄膜,这一温度与当前的 Si 技术需求兼容。如这里对于多铁性 BiFeO(3) 所证明的,大多数多功能多金属氧化物都可以制备出固有光敏和环保的水相前驱体,这为这种低温制造技术提供了几乎无限的可能性。

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