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基于纳米力的原子世界:原子力显微镜的25年

Atom world based on nano-forces: 25 years of atomic force microscopy.

作者信息

Morita Seizo

机构信息

Graduate School of Engineering, Osaka University, Yamada-Oka 2-1, 565-0871, Japan.

出版信息

J Electron Microsc (Tokyo). 2011;60 Suppl 1:S199-211. doi: 10.1093/jmicro/dfr047.

DOI:10.1093/jmicro/dfr047
PMID:21844590
Abstract

Scanning tunneling microscopy (STM) has opened up the new nanoworlds of scanning probe microscopy. STM is the first-generation atomic tool that can image, evaluate and manipulate individual atoms and consequently can create nanostructures by true bottom-up methods based on atom-by-atom manipulation. Atomic force microscopy is a second-generation atomic tool that has followed the footsteps of STM, and which is now opening doors to a new atom world based on using nanoscale forces.

摘要

扫描隧道显微镜(STM)开启了扫描探针显微镜的新纳米世界。STM是第一代原子工具,能够对单个原子进行成像、评估和操纵,因此可以基于逐个原子操纵的真正自下而上的方法创建纳米结构。原子力显微镜是第二代原子工具,它追随STM的脚步,现在正基于使用纳米级力打开通往新原子世界的大门。

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Atom world based on nano-forces: 25 years of atomic force microscopy.基于纳米力的原子世界:原子力显微镜的25年
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引用本文的文献

1
Error Analysis of the Combined-Scan High-Speed Atomic Force Microscopy.组合扫描高速原子力显微镜的误差分析。
Sensors (Basel). 2021 Sep 13;21(18):6139. doi: 10.3390/s21186139.