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动态单电子发射器的等待时间分布。

Distributions of waiting times of dynamic single-electron emitters.

机构信息

Département de Physique Théorique, Université de Genève, CH-1211 Genève, Switzerland.

出版信息

Phys Rev Lett. 2011 Aug 19;107(8):086805. doi: 10.1103/PhysRevLett.107.086805. Epub 2011 Aug 16.

DOI:10.1103/PhysRevLett.107.086805
PMID:21929192
Abstract

The distribution of waiting times between elementary tunneling events is of fundamental importance for understanding the stochastic charge transfer processes in nanoscale conductors. Here we investigate the waiting time distributions (WTDs) of periodically driven single-electron emitters and evaluate them for the specific example of a mesoscopic capacitor. We show that the WTDs provide a particularly informative characterization of periodically driven devices and we demonstrate how the WTDs allow us to reconstruct the full counting statistics (FCS) of charges that have been transferred after a large number of periods. We find that the WTDs are capable of describing short-time physics and correlations which are not accessible via the FCS alone.

摘要

基本隧穿事件之间的等待时间分布对于理解纳米尺度导体中的随机电荷转移过程至关重要。在这里,我们研究了周期性驱动单电子发射器的等待时间分布(WTD),并针对介观电容器的具体示例对其进行了评估。我们表明,WTD 特别有效地描述了周期性驱动的器件,并且演示了如何通过 WTD 来重建在经过大量周期后转移的电荷的完整计数统计(FCS)。我们发现,WTD 能够描述短时间物理和相关性,而这些是仅通过 FCS 无法获得的。

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