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使用二维光栅干涉仪对菲涅耳波带板的 X 射线波前进行特性描述。

X-ray wavefront characterization of a Fresnel zone plate using a two-dimensional grating interferometer.

机构信息

Diamond Light Source, Harwell Science and Innovation Campus, Didcot, Oxfordshire, UK.

出版信息

Opt Lett. 2013 Mar 15;38(6):827-9. doi: 10.1364/OL.38.000827.

DOI:10.1364/OL.38.000827
PMID:23503229
Abstract

The x-ray wavefront downstream of a Fresnel zone plate (FZP) was characterized using a two-dimensional grating interferometer. Transverse wavefront slope maps, measured using a raster phase-stepping scan, allowed accurate phase reconstruction of the x-ray beam. Wavefront measurements revealed that the wavefront error is very sensitive to the input beam entering the FZP. A small stack of one-dimensional compound refractive lenses was used to introduce astigmatism in the probing x-ray beam to investigate the contribution of the incoming beam in contrast to the optical aberrations. Experimental data were shown to be consistent with theoretical calculations.

摘要

使用二维光栅干涉仪对菲涅尔波带片(FZP)下游的 X 射线波前进行了表征。通过光栅相移扫描测量得到的横向波前斜率图,可以准确地重建 X 射线光束的相位。波前测量结果表明,波前误差对进入 FZP 的输入光束非常敏感。使用一小堆一维复合折射透镜在探测 X 射线光束中引入像散,以研究入射光束与光学像差的贡献。实验数据与理论计算结果一致。

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