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ZrSiO₄ 和 ZrO₂ 的价电子能量损失谱研究。

Valence electron energy-loss spectroscopy study of ZrSiO₄ and ZrO₂.

机构信息

Department of Physics, Arizona State University, AZ 85287-1504, USA.

出版信息

Ultramicroscopy. 2013 Nov;134:68-76. doi: 10.1016/j.ultramic.2013.06.021. Epub 2013 Jul 16.

Abstract

ZrSiO4 (zircon) and m-ZrO2 (zirconia) are fundamental and industrially important materials. This work reports the detailed valence electron energy-loss spectroscopy (VEELS) studies of these compounds. The dielectric response functions, as well as single-electron interband transition spectra, are derived from VEELS data for both ZrSiO4 and m-ZrO2, in the range 5-50 eV using the Kramers-Kronig analysis method. Our interpretation of the interband transitions is given with the aid of ab initio calculations of density of states. The bandgap energies for both materials are also measured using VEELS. The surface and bulk plasmons are identified: the surface plasmon peaks locate at around 12 eV, and two bulk plasmon peaks are ∼15-16 eV and ∼25-27 eV, respectively. Although similarities in the VEELS exist between ZrSiO4 and m-ZrO2, two major differences are also noticed and explained in terms of composition and structure differences.

摘要

ZrSiO4(锆英石)和 m-ZrO2(氧化锆)是基础且具有重要工业应用的材料。本工作对这些化合物进行了详细的价电子能量损失谱(VEELS)研究。利用 Kramers-Kronig 分析方法,从 ZrSiO4 和 m-ZrO2 的 VEELS 数据中,在 5-50 eV 的范围内,得出了介电响应函数以及单电子能带间跃迁谱。我们借助于从头算方法计算的态密度,对能带间跃迁进行了分析。同时,也利用 VEELS 测量了这两种材料的能隙。我们还确定了表面和体等离子体激元的位置:表面等离子体峰位于约 12 eV,两个体等离子体峰分别位于约 15-16 eV 和约 25-27 eV。尽管 ZrSiO4 和 m-ZrO2 在 VEELS 上存在相似性,但我们也注意到了两个主要差异,并从组成和结构差异的角度进行了解释。

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