Silva Katia Regina da, Albertini Caio Marcos de Moraes, Crevelari Elizabeth Sartori, Carvalho Eduardo Infante Januzzi de, Fiorelli Alfredo Inácio, Martinelli Martino, Costa Roberto
Instituto do Coração (InCor) do Hospital das Clínicas da Faculdade de Medicina da Universidade de São Paulo (HCFMUSP), São Paulo, SP - Brazil.
Arq Bras Cardiol. 2016 Sep;107(3):245-256. doi: 10.5935/abc.20160129. Epub 2016 Aug 29.
: Complications after surgical procedures in patients with cardiac implantable electronic devices (CIED) are an emerging problem due to an increasing number of such procedures and aging of the population, which consequently increases the frequency of comorbidities.
: To identify the rates of postoperative complications, mortality, and hospital readmissions, and evaluate the risk factors for the occurrence of these events.
: Prospective and unicentric study that included all individuals undergoing CIED surgical procedures from February to August 2011. The patients were distributed by type of procedure into the following groups: initial implantations (cohort 1), generator exchange (cohort 2), and lead-related procedures (cohort 3). The outcomes were evaluated by an independent committee. Univariate and multivariate analyses assessed the risk factors, and the Kaplan-Meier method was used for survival analysis.
: A total of 713 patients were included in the study and distributed as follows: 333 in cohort 1, 304 in cohort 2, and 76 in cohort 3. Postoperative complications were detected in 7.5%, 1.6%, and 11.8% of the patients in cohorts 1, 2, and 3, respectively (p = 0.014). During a 6-month follow-up, there were 58 (8.1%) deaths and 75 (10.5%) hospital readmissions. Predictors of hospital readmission included the use of implantable cardioverter-defibrillators (odds ratio [OR] = 4.2), functional class III--IV (OR = 1.8), and warfarin administration (OR = 1.9). Predictors of mortality included age over 80 years (OR = 2.4), ventricular dysfunction (OR = 2.2), functional class III-IV (OR = 3.3), and warfarin administration (OR = 2.3).
: Postoperative complications, hospital readmissions, and deaths occurred frequently and were strongly related to the type of procedure performed, type of CIED, and severity of the patient's underlying heart disease.
: Complicações após procedimentos cirúrgicos em portadores de dispositivos cardíacos eletrônicos implantáveis (DCEI) são um problema emergente devido ao aumento crescente na taxa destes procedimentos e ao envelhecimento da população, com consequente aumento de comorbidades.
: Identificar as taxas de complicações pós-operatórias, mortalidade e readmissão hospitalar, e pesquisar fatores de risco para a ocorrência desses eventos.
MÉTODOS:: Registro prospectivo e unicêntrico que incluiu todos os indivíduos submetidos a procedimentos cirúrgicos em DCEI no período de fevereiro a agosto de 2011. Os pacientes foram distribuídos por tipos de procedimento nos seguintes grupos: implantes iniciais (coorte 1), troca de gerador (coorte 2) e procedimentos em cabos-eletrodos (coorte 3). Os desfechos foram avaliados por um comitê independente. Empregou-se a análise univariada e multivariada para a pesquisa de fatores de risco e o método de Kaplan-Meier para análise de sobrevida.
: Foram incluídos 713 pacientes, sendo 333, 304 e 76 distribuídos nas coortes 1, 2 e 3, respectivamente. Complicações pós-operatórias foram detectadas em 7,5%, 1,6% e 11,8% dos pacientes nas coortes 1, 2 e 3, respectivamente (p = 0,014). Durante os 6 meses de seguimento, houve 58 (8,1%) óbitos e 75 (10,5%) readmissões hospitalares. Preditores de readmissão hospitalar incluíram o uso de cardioversor-desfibrilador implantável ( odds ratio [OR] = 4,2), classe funcional III-IV (OR = 1,8) e uso de warfarina (OR = 1,9). Preditores de mortalidade incluíram idade acima de 80 anos (OR = 2,4), disfunção ventricular (OR = 2,2), classe funcional III-IV (OR = 3,3) e uso de warfarina (OR = 2,3).
CONCLUSÕES:: Complicações pós-operatórias, readmissões hospitalares e óbitos foram frequentes. Esses eventos estiveram fortemente relacionados ao tipo de procedimento realizado, tipo de DCEI e gravidade da doença cardíaca do paciente.
由于心脏植入式电子设备(CIED)手术数量的不断增加以及人口老龄化,此类手术患者术后并发症成为一个新出现的问题,这也导致了合并症发生频率的增加。
确定术后并发症、死亡率和医院再入院率,并评估这些事件发生的风险因素。
一项前瞻性单中心研究,纳入了2011年2月至8月期间所有接受CIED手术的患者。患者按手术类型分为以下几组:初次植入(队列1)、发生器更换(队列2)和导线相关手术(队列3)。结果由一个独立委员会进行评估。单因素和多因素分析评估风险因素,采用Kaplan-Meier方法进行生存分析。
该研究共纳入713例患者,分布如下:队列1有333例,队列2有304例,队列3有76例。队列1、2和3中分别有7.5%、1.6%和11.8%的患者发生术后并发症(p = 0.014)。在6个月的随访期间,有58例(8.1%)死亡和75例(10.5%)再次入院。再次入院的预测因素包括植入式心脏复律除颤器的使用(比值比[OR]=4.2)、功能分级III-IV级(OR = 1.8)和华法林的使用(OR = 1.9)。死亡的预测因素包括80岁以上的年龄(OR = 2.4)、心室功能障碍(OR = 2.2)、功能分级III-IV级(OR = 3.3)和华法林的使用(OR = 2.3)。
术后并发症、医院再入院和死亡情况频繁发生,且与所进行的手术类型、CIED类型以及患者潜在心脏病的严重程度密切相关。
心脏植入式电子设备(DCEI)携带者手术后的并发症是一个新出现的问题,这是由于此类手术的发生率不断增加以及人口老龄化,导致合并症增多。
确定术后并发症、死亡率和医院再入院率,并研究这些事件发生的风险因素。
前瞻性单中心登记研究,纳入了2011年2月至8月期间所有接受DCEI手术的个体。患者按手术类型分为以下几组:初次植入(队列1)、发生器更换(队列2)和电极导线手术(队列3)。结果由一个独立委员会进行评估。采用单因素和多因素分析来研究风险因素,并使用Kaplan-Meier方法进行生存分析。
共纳入713例患者,分别有333例、304例和76例分布在队列1、2和3中。队列1、2和3中分别有7.5%、1.6%和11.8%的患者出现术后并发症(p = 0.014)。在6个月的随访期间,有58例(8.1%)死亡和75例(10.5%)再次入院。医院再入院的预测因素包括植入式心脏复律除颤器的使用(比值比[OR]=4.2)、功能分级III-IV级(OR = 1.8)和华法林的使用(OR = 1.9)。死亡的预测因素包括80岁以上的年龄(OR = 2.4)、心室功能障碍(OR = 2.2)、功能分级III-IV级(OR = 3.3)和华法林的使用(OR = 2.3)。
术后并发症、医院再入院和死亡情况频繁。这些事件与所进行的手术类型、DCEI类型以及患者心脏疾病的严重程度密切相关。