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培养细胞的无专用设备共聚焦和扫描电子显微镜相关观察。

Correlative confocal and scanning electron microscopy of cultured cells without using dedicated equipment.

机构信息

Centro de Biología Molecular Severo Ochoa, Consejo Superior de Investigaciones Científicas and Universidad Autónoma de Madrid, 28049 Madrid, Spain.

Instituto de Micro y Nanotecnología, IMN-CNM, CSIC (CEI UAM+CSIC), Tres Cantos, Madrid 28760, Spain.

出版信息

STAR Protoc. 2021 Aug 9;2(3):100727. doi: 10.1016/j.xpro.2021.100727. eCollection 2021 Sep 17.

DOI:10.1016/j.xpro.2021.100727
PMID:34409307
原文链接:https://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC8361273/
Abstract

This protocol enables correlative light and electron microscopy (CLEM) imaging of cell surface features without using dedicated equipment. Cells are cultured and fixed on transparent substrates for confocal microscopy imaging. No conductive coating is employed in the scanning electron microscopy workflow, providing a clean cell surface observation, with fiducial markers assisting alignment of optical and topographical images. This protocol describes CLEM imaging for midbody remnants in MDCK cells but can also be applied to different cell types and surface features. For complete details on the use and execution of this protocol, please refer to Casares-Arias et al. (2020).

摘要

本方案介绍了一种无需专用设备即可对细胞表面特征进行共聚焦和电子显微镜相关成像（CLEM）的方法。细胞在透明底物上培养和固定，然后进行共聚焦显微镜成像。在扫描电子显微镜工作流程中不使用任何导电涂层，从而可以提供清洁的细胞表面观察，同时使用基准标记物辅助光学和形貌图像的对准。本方案描述了用于 MDCK 细胞中中体残余物的 CLEM 成像，但也可以应用于不同的细胞类型和表面特征。有关该方案使用和实施的完整详细信息，请参见 Casares-Arias 等人（2020 年）。

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