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EDX and EELS in the high-voltage electron microscope: localization of elements in thick specimens.

作者信息

Tivol W F, Ratkowski A J, Parsons D F

出版信息

Neurotoxicology. 1983 Fall;4(3):161-3.

PMID:6686304
Abstract
摘要

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EDX and EELS in the high-voltage electron microscope: localization of elements in thick specimens.高压电子显微镜中的能量过滤X射线能谱分析和电子能量损失谱分析：厚样品中元素的定位
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