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一种在背散射电子检测模式下使用扫描电子显微镜放大摄影图像的新方法。

A new method of magnifying photographic images using the scanning electron microscope in the backscattered electron detection mode.

作者信息

Frasca P, Galkin B, Feig S, Muir H, Soriano R, Kaufman H

出版信息

Scan Electron Microsc. 1982(Pt 3):917-23.

PMID:7170609
Abstract

This paper describes a new method of magnifying small images in photographic film by means of a scanning electron microscope (SEM) operated in the backscattered electron detection mode. The study included tests of several types of radiographic film, transmission electron microscopy film, and black and white 35 mm film. The electron optical enlargement method is particularly useful in situations where the film sample is opaque to light and for generating enlarged images at magnifications beyond the reach of light optical enlargement methods, i.e. up to approximately 2000X with ease and rapidity in a single step. The electron optical enlargements compare favorably in contrast and detail with the enlargements made with a light microscope and with a darkroom enlarger.

摘要

本文介绍了一种通过在背散射电子检测模式下操作的扫描电子显微镜(SEM)放大摄影胶片中小图像的新方法。该研究包括对几种类型的射线照相胶片、透射电子显微镜胶片和黑白35毫米胶片的测试。电子光学放大方法在胶片样品对光不透明的情况下特别有用,并且能够以光光学放大方法无法达到的放大倍数生成放大图像,即在一步操作中轻松快速地放大到约2000倍。与用光学显微镜和暗室放大机所做的放大相比,电子光学放大在对比度和细节方面表现良好。

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