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Determination of charge accumulation and its characteristic time in double-barrier resonant tunneling structures using steady-state photoluminescence.

作者信息

Young JF, Wood BM, Aers GC, Devine RL, Liu HC, Landheer D, Buchanan M, SpringThorpe AJ, Mandeville P

出版信息

Phys Rev Lett. 1988 May 16;60(20):2085-2088. doi: 10.1103/PhysRevLett.60.2085.

DOI:10.1103/PhysRevLett.60.2085
PMID:10038253
Abstract
摘要

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Determination of charge accumulation and its characteristic time in double-barrier resonant tunneling structures using steady-state photoluminescence.利用稳态光致发光测定双势垒共振隧穿结构中的电荷积累及其特征时间。
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