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X-ray reflectivity and adsorption isotherm study of fractal scaling in vapor-deposited films.

作者信息

Chiarello R, Panella V, Krim J, Thompson C

出版信息

Phys Rev Lett. 1991 Dec 9;67(24):3408-3411. doi: 10.1103/PhysRevLett.67.3408.

DOI:10.1103/PhysRevLett.67.3408
PMID:10044726
Abstract
摘要

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1
X-ray reflectivity and adsorption isotherm study of fractal scaling in vapor-deposited films.
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