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Observation of rapid direct charge transfer between deep defects in silicon.

作者信息

Frens AM, Bennebroek MT, Zakrzewski A, Schmidt J, Chen WM, Janzén E, Lindström JL, Monemar B

出版信息

Phys Rev Lett. 1994 May 2;72(18):2939-2942. doi: 10.1103/PhysRevLett.72.2939.

DOI:10.1103/PhysRevLett.72.2939
PMID:10056023
Abstract
摘要

相似文献

1
Observation of rapid direct charge transfer between deep defects in silicon.
Phys Rev Lett. 1994 May 2;72(18):2939-2942. doi: 10.1103/PhysRevLett.72.2939.
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引用本文的文献

1
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