Noble D, Stein R B
J Physiol. 1966 Nov;187(1):129-62. doi: 10.1113/jphysiol.1966.sp008079.
分析了均匀极化的可兴奋膜以及在一点极化的可兴奋电缆的阈下刺激强度与持续时间之间的关系(强度 - 持续时间曲线)。
分析了膜电流 - 电压曲线中的非线性对强度 - 持续时间曲线的影响。如果膜电流 - 电压关系与时间无关,则可以推导出强度 - 持续时间曲线。分析了由于存在有限的膜激活时间和膜适应性导致的电流 - 电压曲线随时间变化的影响。
将霍奇金 - 赫胥黎膜方程(霍奇金和赫胥黎,1952年)的强度 - 持续时间曲线与希尔(1936年)的双时间常数模型的曲线进行了比较。
推导了稳态条件下膜电流 - 电压曲线与点极化电缆的曲线之间的关系。电缆特性倾向于使电流 - 电压曲线线性化并锐化电压阈值。
对膜服从霍奇金 - 赫胥黎方程的点极化电缆的强度 - 持续时间曲线进行了数值计算。在恒定电流通过期间电荷重新分布对电缆强度 - 持续时间曲线产生了额外的显著影响;并且所得的强度 - 持续时间曲线位于希尔模型预测的曲线范围内。
对于在一点施加到电缆的短而强的刺激,表明满足恒定电荷阈值所需的条件(霍奇金和拉什顿,1946年)。
参考现有的实验研究对结果进行了讨论。