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通过电子衍射测量非晶态晶间薄膜的静电势分布。

Measuring electrostatic potential profiles across amorphous intergranular films by electron diffraction.

作者信息

Koch Christoph T, Bhattacharyya Somnath, Rühle Manfred, Satet Raphaëlle L, Hoffmann Michael J

机构信息

Max Planck Institut für Metallforschung, Heisenbergstr. 3, D-70569 Stuttgart, Germany.

出版信息

Microsc Microanal. 2006 Apr;12(2):160-9. doi: 10.1017/S1431927606060132.

DOI:10.1017/S1431927606060132
PMID:17481353
Abstract

Amorphous 1-2-nm-wide intergranular films in ceramics dictate many of their properties. The detailed investigation of structure and chemistry of these films pushes the limits of today's transmission electron microscopy. We report on the reconstruction of the one-dimensional potential profile across the film from an experimentally acquired tilt series of energy-filtered electron diffraction patterns. Along with the potential profile, the specimen thickness, film orientation with respect to the grain lattice and specimen surface, and the absolute specimen orientation with respect to the laboratory frame of reference are retrieved.

摘要

陶瓷中1-2纳米宽的非晶态晶界薄膜决定了它们的许多特性。对这些薄膜的结构和化学性质进行详细研究,已超出了当今透射电子显微镜的极限。我们报告了从实验获得的一系列能量过滤电子衍射图案的倾斜图像中重建薄膜的一维势分布。除了势分布外,还能获得样品厚度、薄膜相对于晶粒晶格和样品表面的取向,以及样品相对于实验室参考系的绝对取向。

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