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用于电子散斑图案干涉测量法(ESPI)中纯面内位移和位移导数测量的空间相移

Spatial phase shifting for pure in-plane displacement and displacement-derivative measurements in electronic speckle pattern interferometry (ESPI).

作者信息

Sirohi R S, Burke J, Helmers H, Hinsch K D

出版信息

Appl Opt. 1997 Aug 10;36(23):5787-91. doi: 10.1364/ao.36.005787.

DOI:10.1364/ao.36.005787
PMID:18259407
Abstract

Hitherto no method, to our knowledge, was known to incorporate spatial phase shifting for the measurement of pure in-plane displacements. We demonstrate that the modified Duffy two-aperture configuration [Opt. Lett. 22, 1958 (1996)], which is sensitive to only the in-plane displacement component and offers increased sensitivity, lends itself to measurement with spatial phase shifting. The configuration can also be used for obtaining displacement derivatives by the introduction of shear with the tilt of a mirror.

摘要

据我们所知,迄今为止还没有一种方法能够结合空间相移来测量纯面内位移。我们证明,改进后的达菲双孔径配置[《光学快报》22, 1958 (1996)]仅对面内位移分量敏感且灵敏度更高,适用于空间相移测量。通过倾斜镜子引入剪切,该配置还可用于获取位移导数。

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